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Electronic holography and shearography NDE for inspection of modern materials and structures

机译:电子全息和剪切成像NDE,用于检查现代材料和结构

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摘要

Coherent optical techniques such as holography, shearography, and ESPI have been available for inspection applications for years. However, they are still not well known or widely used. In fact, they have sometimes been described as “a solution looking for a problem” and like so many new technologies, they may have been somewhat oversold. These optical NDE methods do, however, offer some impressive advantages over more conventional inspection techniques for the right applications. It is the intent of this paper to provide some basic information on how two of these optical methods, holography and shearography, work discuss capabilities and limitations of both, present the electronic holography and shearography inspection system developed by UTRC/Pratt \u26 Whitney, and provide some examples of successful applications of both.
机译:诸如全息照相,剪切照相和ESPI之类的相干光学技术已经用于检查应用多年了。但是,它们仍然不是众所周知的或广泛使用的。实际上,有时将它们描述为“寻找问题的解决方案”,并且像许多新技术一样,它们可能已经被超卖了。但是,这些光学NDE方法确实比常规检测技术在正确的应用程序上具有一些令人印象深刻的优势。本文的目的是提供一些基本信息,介绍这两种光学方法(全息照相和剪切照相法)如何讨论两者的功能和局限性,介绍由UTRC / Pratt \ u26 Whitney开发的电子全息照相和照相照相检查系统,以及提供了两者成功应用的一些示例。

著录项

  • 作者

    Clarady, J.; Summers, M.;

  • 作者单位
  • 年度 1993
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

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